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集成电路互连线寿命的工艺缺陷影响分析  CNKI文献

在深亚微米和超深亚微米集成电路中,互连线失效是影响集成电路可靠性的主要因素之一.由于在集成电路制造过程中存在着缺陷,缺陷的出现导致了集成电路可靠性的下降,尤其是出现在互连线上的丢失物缺陷加剧了互连线的电迁...

赵天绪 段旭朝... 《计算机学报》 2006年02期 期刊

关键词: 互连线寿命 / 电迁移 / 工艺扰动 / 缺陷

下载(362)| 被引(11)

基于缺陷均匀分布的集成电路制造成品率与可靠性之间的关系...  CNKI文献

在集成电路可制造性设计研究中,成品率与可靠性之间的关系模型备受人们关注.缺陷对成品率和可靠性的影响不仅与出现在芯片上的缺陷粒径大小有关而且与缺陷出现在芯片上的位置有关.本文主要考虑了出现在互连线上的金属...

赵天绪 段旭朝 《电子学报》 2012年08期 期刊

关键词: 成品率 / 可靠性 / 缺陷 / 粒径分布

下载(136)| 被引(3)

新形势下地方院校大学数学课程改革与实践  CNKI文献

随着高校连年扩招,"精英式"的高等教育已被普及式的大众教育所代替。随之而来,高等教育面临着不少新问题:在高等教育大众化背景下,本科生的入学人数急剧增加,学生在知识、能力、个性等诸多方面的差异幅度明...

赵天绪 阎恩让 《技术与创新管理》 2014年02期 期刊

关键词: 高等教育新形势 / 教学模式 / 课程内容改革

下载(127)| 被引(4)

集成电路缺陷分布模型和容错技术研究  CNKI文献

本文对集成电路制造过程中的缺陷空间分布模型和IC的容错结构及其成品率 做了系统地理论研究。主要研究结果如下: 根据缺陷在圆片上的位置首先给出了每个缺陷的模糊度,然后利用圆片上的 ...

赵天绪 导师:郝跃 西安电子科技大学 1999-12-01 博士论文

关键词: 功能成品率 / 局域缺陷 / 变步长聚类算法 / 空间分布模型

下载(448)| 被引(6)

基于制造成品率模型的集成电路早期可靠性估计  CNKI文献

缺陷是影响集成电路成品率与可靠性的主要因素.本文在区分缺陷与故障两个概念的基础上,将缺陷区分为成品率缺陷(硬故障)、可靠性缺陷(软故障)和良性缺陷.利用关键区域的面积,给出了一个缺陷成为“硬故障”或“软故障”...

赵天绪 段旭朝... 《电子学报》 2005年11期 期刊

关键词: 成品率 / 失效率 / 缺陷 / 软故障

下载(238)| 被引(11)

集成电路局部缺陷模型及其相关的功能成品率分析  CNKI文献

大规模集成电路 (VLSI)使亚微米特征尺寸的大面积集成电路制造以及集成数百万个器件在一芯片上成为可能。然而 ,缺陷的存在致使电路版图的拓扑结构发生变化 ,产生 IC电路连接错误 ,导致电路丧失功能 ,从而影响 IC的成...

赵天绪 郝跃 《微电子学》 2001年02期 期刊

关键词: 大规模集成电路 / 亚微米器件 / 功能成品率 / 缺陷模型

下载(111)| 被引(11)

基于关键面积的冗余集成电路成品率分析  CNKI文献

利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率 ,并给出了其计算模型 .实例模拟表明 ,与传统的成品率分析方法相比 ,该模型预测 IC成品率具有更高的精度 .

赵天绪 段旭朝... 《半导体学报》 2003年05期 期刊

关键词: 关键面积 / 故障 / 成品率 / 缺陷

下载(113)| 被引(6)

划分IC缺陷团的聚类算法  CNKI文献

大量实验表明了在集成电路 (IC)制造过程中形成的缺陷团之间具有很强的相关性 ,然而现用于划分缺陷团的方法均忽略了缺陷之间的相关性 .因此 ,得到的缺陷分布规律不能有效地反映缺陷在圆片上的分布 .为了提高IC成品率...

赵天绪 马佩军... 《计算机学报》 2002年06期 期刊

关键词: IC缺陷 / 相关性 / 缺陷分布 / 聚类算法

下载(87)| 被引(6)

一种有效的IC成品率估算模型  CNKI文献

从缺陷造成电路故障的机理出发 ,给出了芯片故障概率和成品率的计算新模型 .利用 IC功能成品率仿真系统 XD- YES对实际电路 XT- 1成品率参数的提取 ,同时利用新模型进行计算 ,其结果与实际结果符合很好

赵天绪 郝跃... 《半导体学报》 2002年02期 期刊

关键词: 功能成品率 / 缺陷 / 故障率

下载(82)| 被引(5)

基于离散模型的IC可靠性与成品率关系  CNKI文献

集成电路的可靠性和成品率是制约半导体制造发展的两个主要因素 .如何表征可靠性和成品率之间的关系是一个非常重要的问题 .本文利用一种离散的成品率模型导出了二者的关系式 ,该关系式不仅考虑了线宽、线间距等版图的...

赵天绪 郝跃... 《电子学报》 2001年11期 期刊

关键词: 可靠性 / 成品率 / 缺陷粒径分布

下载(99)| 被引(2)

基于子单元级冗余的VLSI成品率优化设计方法  CNKI文献

利用最优化思想描述了子单元级冗余的最优分配模型 ,用遗传算法给出了全局最优解 .该模型中考虑了影响成品率的两个因素 :缺陷的平均密度 D和支撑电路的面积占单元总面积的比率δ.通过实例分析得到 ,在D保持不变时最优...

赵天绪 马佩军... 《西安电子科技大学学报》 2001年03期 期刊

关键词: 成品率 / 遗传算法 / 最优分配模型

下载(50)| 被引(5)

VLSI冗余单元最优分配的遗传算法求解  CNKI文献

随着VLSI芯片面积的增加和电路复杂性的增强,芯片的成品率受制造缺陷影响的概率逐渐增加。为了解决这一问题,人们将容错技术结合入集成电路设计中。要使一个系统具有较强的容错能力,必须给系统提供一定量冗余单元。本...

赵天绪 郝跃... 《电子与信息学报》 2001年01期 期刊

关键词: 遗传算法 / 成品率 / 备用单元 / 容错能力

下载(60)| 被引(3)

一种有效的电路容错结构及其成品率分析  CNKI文献

本文提出了一种有效的电路容错结构 ,给出了一种重组算法 .按照这种重组算法 ,对该结构的成品率进行了分析 ,并给出了其成品率的表达式 .最后 ,通过电路设计和分析说明了该容错结构的有效性 .

赵天绪 郝跃... 《电子学报》 2000年02期 期刊

关键词: 容错结构 / 重组算法 / 成品率分析

下载(60)| 被引(3)

集成电路功能成品率的研究  CNKI文献

集成电路功能成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计中的重要内容。本文主要对导致成品率下降的缺陷的轮廓模型和集成电路的功能成品率的研究作了简单介绍。

赵天绪 何广平... 《宝鸡文理学院学报(自然科学版)》 1999年03期 期刊

关键词: 集成电路 / 成品率 / 缺陷 / 关键面积

下载(63)| 被引(2)

基于IC互连线开路故障的Y/R模型  CNKI文献

在半导体制造业中 ,IC的成品率和可靠性 (Y/R)是倍受关注的两个问题 .研究表明它们之间存在着显著的相关性 .为了表征这种相关性 ,本文从缺陷造成互连线开路的机理出发 ,分析了成品率关键面积和可靠性关键面积 ,提出了...

赵天绪 郝跃... 《电子学报》 2002年11期 期刊

关键词: 成品率 / 可靠性 / 关键面积

下载(66)| 被引(0)

基于刻蚀工艺的IC关键面积计算模型与实现方法  CNKI文献

在 IC的制造过程中 ,由于工艺的随机扰动 ,过刻蚀和欠刻蚀造成了导线条的宽度和线间距的变化 .论文在分析过刻蚀和欠刻蚀对 IC版图影响的基础上 ,提出了基于工艺偏差影响的 IC关键面积计算新模型和实现方法 .模拟实验...

赵天绪 郝跃... 《半导体学报》 2002年01期 期刊

关键词: 关键面积 / 随机扰动 / 缺陷

下载(61)| 被引(0)

随机规划中的一些逼近结果  CNKI文献

主要讨论了一类随机规划的目标函数分别在概率测度序列分布收敛、函数序列上图收敛以及随机变量序列均方可积收敛等收敛意义下目标函数序列的收敛情况,基于上述收敛情况本文给出了一些逼近思想,这些思想可应用于求解这...

赵天绪 郝跃... 《纯粹数学与应用数学》 1998年04期 期刊

关键词: 随机规划 / 期望泛函 / 依分布收敛 / 上图收敛

下载(47)| 被引(2)

随机规划的目标函数的连续性  CNKI文献

讨论了形如的随机规划的目标函数#f(x,ξ(ω)的连续性。

赵天绪 李宏涛 《宝鸡文理学院学报(自然科学版)》 1997年02期 期刊

关键词: 期望泛函 / 下半连续函数 / Lipschitz连续函数

下载(39)| 被引(2)

一类随机规划问题的逼近求解  CNKI文献

主要讨论了一类随机规划在函数序列上图收敛和随机变量序列均方收敛意义下 ,该类随机规划的最优解和最优值的收敛情况。

赵天绪 田絮资 《宝鸡文理学院学报(自然科学版)》 2001年01期 期刊

关键词: 随机规划 / 最优值 / 上图收敛 / 均方收敛

下载(51)| 被引(1)

集成电路参数成品率的研究  CNKI文献

集成电路参数成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计研究的重要内容之一。作者首先给出了参数成品率的计算模型 ;其次讨论了模拟参数成品率的原理和算法 ;最后给出了参数成品率的优化模型和求解方法。

赵天绪 赵金锁... 《宝鸡文理学院学报(自然科学版)》 2000年04期 期刊

关键词: 参数成品率 / 设计参数 / 抽样方法 / 优化模型

下载(63)| 被引(0)

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