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可靠性预计中的置信度问题研究  CNKI文献

在电子设备可靠性预计的传统方法中引入置信度概念 ,从而提出一种置信的可靠性预计方法。用这两种方法分别预计单元设备、表决系统和并联系统的可靠性并加以比较 ,结果表明 ,一种潜在的保守性的系统性的误差得以消除 ...

郭维长 《中国空间科学技术》 2002年06期 期刊

关键词: 置信界限 / 可靠性预计 / 航天器 / 研究

下载(303)| 被引(12)

论火工装置的抽样试验与可靠性评估问题  CNKI文献

对航天器用的火工装置,提出运用序贯检验方法制定其抽样试验方案以及运用贝叶斯方法评定其可靠性的建议。算例表明,文章所提建议适用于解决小子样成败型产品的可靠性设计、试验和验证等问题,对节省产品研制经费有重...

郭维长 《中国空间科学技术》 1999年03期 期刊

关键词: 火工品 / 序贯分析 / 取样法 / 可靠性评价

下载(166)| 被引(8)

威布尔分布的参数估计和可靠性置信下限近似解  CNKI文献

该文对威布尔分布的完全样本数据用极大似然法和配矩法估计其形状参数和特征寿命。当样本量较大时,估计得形状参数和特征寿命可近似看成已知量,进而给出威布尔分布的可靠性置信下限近似解。该文可用于指导航天器非电子...

郭维长 《航天器工程》 2006年01期 期刊

关键词: 威布尔分布 / 参数估计 / 可靠性置信下限

下载(271)| 被引(4)

卫星电子系统可靠性评估(Bayes方法)  CNKI文献

用(α,β)作为元器件失效率的验前信息,由贝叶斯(Bayes)定理和矩法拟合逐级推断出几种常见结构形式下的指数寿命型系统可靠性置信下限近似解。这里的参数α,β宜由专家磋商法间接确定,从而避免了零次失效这一敏感问题...

郭维长 《航天器工程》 1997年Z1期 期刊

关键词: 可靠性评价 / 贝叶斯定理 / 系统设计

下载(244)| 被引(4)

系统可靠性评定(贝叶斯法)  CNKI文献

在价值昂贵、小批量、复杂系统研制程过中,如何充分利用验前信息评估鉴定产品性能和可靠性,减少试验次数,降低研制成本,是科技工作者探索解决的问题。本刊陆续收到了一些涉及系统可靠性综合、评估方面的理论、方法和工...

郭维长 《质量与可靠性》 1987年01期 期刊

关键词: 成败型系统 / 并联系统 / 验前分布 / 可靠性评定

下载(117)| 被引(5)

软件可靠性的量化问题讨论  CNKI文献

在航天器中,随着软件数量的增多,软件可靠性问题日趋尖锐。软件可靠性不能只停留在定性分析阶段,要建立明确的可靠性指标,要通过全任务剖面建立起来的测试用例,对给定软件作长时间的测试和可靠性评价,以便展现软件可靠...

郭维长 《航天器工程》 2007年06期 期刊

关键词: 卫星 / 软件可靠性 / 量化 / 测试用例

下载(150)| 被引(0)

卫星电子设备的可靠性评定  CNKI文献

本文强调卫星电子设备的可靠性评定应从元器件失效率为出发点,结合整机和系统各级现场试验数据进行。失效率的信息或由元件厂直接提供,或由经验估计法得到。本文选取失效率验前分布密度Γ(α,β),α、β>0,运用贝叶...

郭维长 《中国空间科学技术》 1985年04期 期刊

关键词: 串并联系统 / 可靠性评定 / 验前分布 / 卫星电子设备

下载(67)| 被引(5)

单元电子设备的可靠性预计与评估  CNKI文献

一、引言 星上用的电子设备属于不可修系统,它的工作任务时间长,投试样机少,可靠性要求高。设备在研制初期要求作可靠性预计,交付使用时要求作可靠性评定,以便定量化地反映它已具备的固有质量水平,并从中发现薄弱环节...

郭维长 《质量与可靠性》 1988年05期 期刊

关键词: 元件失效率 / 验前信息 / 可靠性预计 / 验前分布

下载(82)| 被引(3)

备份设计的可靠度  CNKI文献

文章在两类不同的验前分布情况下,用贝叶斯定理推断并联、待机和多数表决系统的可靠性置信下界。其解可供电子系统设计者参考。

郭维长 《中国空间科学技术》 1990年02期 期刊

关键词: 可靠性评价 / 贝叶斯定理 / 系统设计

下载(33)| 被引(1)

星上电子设备可靠性验证方法探讨  CNKI文献

本文指出星上设备进行可靠性验证试验的必要性,指出传统方法存在的问题并提出一种新的统计试验方法供有关人员参考。

郭维长 《航天器工程》 1992年02期 期刊

关键词: 可靠性验证 / 质量保证 / 贝叶斯定理 / 卡方分布

下载(22)| 被引(0)

成败型可靠性数表及其程序  CNKI文献

一、前言 由贝叶斯(Bayes)法评定成败型产品可靠性时,常取贝它(BETA)函数B(S_0,f_0)作为共轭性验前分布,但其参数S_0,f_0的选择多种多样,例如常见的形式有B(0,0),B(1/2,1/2),B(1,1),B(0,1)等,由此推断的单元或系统可靠...

郭维长 《质量与可靠性》 1988年02期 期刊

关键词: 成败型 / 验前分布

下载(30)| 被引(0)

微电路的可靠性预测  CNKI文献

本文为中、小规模及大规模集成电路研制出一种可靠性预洲模式。它为纯乘积形式,具有计算简便的优点。它包含了所有影响器件可靠性的相关因子,特别还包含了其他模式中未曾发现的两个新因子。本文还给出了如何估计器件结...

S Palo ... 《系统工程与电子技术》 1985年11期 期刊

关键词: 失效率 / 定标因子 / 微电路 / 存贮器

下载(27)| 被引(0)

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