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大面积扩散Nb_3Sn超导薄膜TEM样品的制备及TEM观察  CNKI文献

用背面防护漂浮减薄法制备了扩散Nb_3Sn超导薄膜的大面积(平方毫米量级)IEM样品。给出了用TEM-200cx电子显微镜观察的典型电子显微象。结果表明,这种新颖的制样方法对于大面积检视和高分辨率的细致研究都是适用的。它...

张金龙 蔡学榆... 《低温物理学报》 1986年01期 期刊

关键词: TEM / 样品制备 / Nb_3Sn / 电子显微

下载(54)| 被引(1)

铌的透射电子显微镜样品的制备技术  CNKI文献

一种新的大面积TEM样品制备技术——背面防护漂浮减薄法,已在原始厚度约为半微米的共蒸Nb_3Ge薄膜和扩散Nb_3Sn薄膜上,成功地制备出大面积TEM样品。本文报导,将这种方法应用于原始厚度约为15微米的Nb箔,同样也能够制备...

张金龙 顾辉... 《电子显微学报》 1986年02期 期刊

关键词: TEM / 样品制备 / 电子显微镜 / 减薄液

下载(70)| 被引(0)

一种新的简易共蒸Nb_3Sn膜的制备及其电子显微术(TEM)研究  CNKI文献

一种新的简易共蒸发技术,成功地制备了超导化合物 Nb_3Sn薄膜,临界温度T_c为18K。用该膜为电极材料制作的Nb_3Sn-Pb隧道结,具有典型的直流I-V特性曲线并测得Nb_3Sn膜的能隙值为 3.1meV。电子显微术(TEM)观察研究表明,...

张金龙 孟小凡... 《低温物理学报》 1987年01期 期刊

关键词: 高分辨电子显微术 / 化合物 / TEM / Nb_3Sn

下载(34)| 被引(0)

一种制备大面积扩散Nb_3Sn超导薄膜透射电子显微(TEM)样品的...  CNKI文献

用背面防护漂浮减薄法制备了扩散Nb_3Sn超导膜的大面积(毫米~2)TEM样品。JEM—200cx电子显微镜对样品的观察表明,这种新的TEM制样方法是成功的。它将有助于直接观察研究与实用Nb_3Sn超导材料相近的扩散薄膜的微结构,探...

张金龙 蔡学榆... 《电子显微学报》 1984年04期 期刊

关键词: TEM / 新方法 / Nb_3Sn / 减薄液

下载(60)| 被引(2)

扩散Nb_3Sn膜晶粒非均匀性与位错界面的电子显微观察  CNKI文献

用电子显微镜(JEM-200cx)对扩散Nb_3Sn超导薄膜的微结构进行了观察,结果表明薄膜内的Nb_3Sn晶粒呈现明显的非均匀性,同时观察到大量的几乎贯穿整个晶粒的叠栅图形(Moire')。这一观察结果有助于Nb_3Sn超导材料的临...

蔡学榆 马长林... 《电子显微学报》 1984年04期 期刊

关键词: 位错界面 / 磁通格子 / Nb_3Sn / 非均匀

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高Tc Nb_3Ge共蒸超导膜的透射电子显微研究  CNKI文献

超导材料的临界电流与其内部的微结构及各种缺陷如位错、晶界、异相粒子等有十分密切的关系。这些缺陷造成的超导性质的不均匀使磁通线运动受阻是强电磁超导材料载流能力的物理基础。最近,一种背面防护漂浮减薄新技术...

尹道乐 W.Schauer... 《电子显微学报》 1984年04期 期刊

关键词: 电子显微 / Tc / Nb_3Ge

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一种制备大面积扩散Nb_3Sn超导薄膜透射电子显微(TEM)样品的...  CNKI文献

用背面防护漂浮减薄法制备了扩散Nb_3Sn超导膜的大面积(毫米~2)TEM样品。JEM—200cx电子显微镜对样品的观察表明,这种新的TEM制样方法是成功的。它将有助于直接观察研究与实用Nb_3Sn超导材料相近的扩散薄膜的微结构,探...

张金龙 蔡学榆... 第三次中国电子显微学会议论文摘要集(二) 1983-06-30 中国会议

关键词: TEM / 新方法 / 电子显微 / Nb_3Sn

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扩散Nb_3Sn膜晶粒非均匀性与位错界面的电子显微观察  CNKI文献

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蔡学榆 马长林... 第三次中国电子显微学会议论文摘要集(二) 1983-06-30 中国会议

关键词: 位错界面 / 磁通格子 / Nb_3Sn / 非均匀

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高Tc Nb_3Ge共蒸超导膜的透射电子显微研究  CNKI文献

超导材料的临界电流与其内部的微结构及各种缺陷如位错、晶界、异相粒子等有十分密切的关系。这些缺陷造成的超导性质的不均匀使磁通线运动受阻是强电磁超导材料载流能力的物理基础。最近,一种背面防护漂浮减薄新技术...

尹道乐 W.Schauer... 第三次中国电子显微学会议论文摘要集(二) 1983-06-30 中国会议

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