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XRD摇摆曲线在单晶基片质量检测中的应用  CNKI文献

本文试图采用倒易空间解释XRD摇摆曲线的物理意义,拓展摇摆曲线的使用范围,并提出用于检测单晶基片质量的几个方法:①基片表面机加工损伤程度分析;②基片表面缺陷分析;③切偏角的测定。将这些方法用于超导膜基片实际检...

宁永功 姬洪... 《现代仪器》 1999年04期 期刊

关键词: 摇摆曲线 / 倒易空间 / 晶体结构 / 缺陷

下载(1078)| 被引(27)

行波管用钨铼合金中高含量铼的X射线荧光光谱测定  CNKI文献

根据行波管用的关键材料 钨铼合金中高含量铼测定的需求 ,研究了用X射线荧光 (XRF)光谱法测定铼时所存在的基体效应、谱线重叠和背景干扰的影响 ,从理论上解释了XRF二元比例法校正曲线线性差的原因。理论和实验结果均...

包生祥 王守绪... 《光谱学与光谱分析》 2005年03期 期刊

关键词: X射线荧光光谱 / 基体效应 / 钨铼合金 / 行波管

下载(142)| 被引(14)

单晶表面加工损伤的评价方法  CNKI文献

单晶表面加工损伤是衡量工艺水平以及单晶片质量的一个主要参数。综述对单晶表面加工损伤进行分析评价的各种方法,对各种分析方法的基本原理、主要特点及应用做了概要介绍。由于单晶表面损伤以及表面残余应力存在一定...

彭晶 包生祥... 《材料导报》 2006年09期 期刊

关键词: 单晶 / 表面损伤层 / 分析评价

下载(160)| 被引(5)

催化剂原料高岭土的XRF分析  CNKI文献

本文拟定了X-射线荧光分析催化剂原料高岭土中Al2O3、SiO2和杂质成分的方法。根据精矿中分析元素含量范围和基体效应的估计,分别合成了Al2O3-SiO2二元系和含所有杂质成分的两套标准系列,测定烧...

包生祥 王志红... 《光谱学与光谱分析》 1998年06期 期刊

关键词: X-射线荧光分析 / 高岭土 / 样品制备

下载(148)| 被引(13)

X-射线荧光光谱测定甜瓜中矿质元素  CNKI文献

报道了日本理学3080E3型X-射线荧光光谱仪在测定甜瓜样品常量和微量矿质元素中的应用。以国家植物标准参考物质(GBW)为校准标样,采用真空加热干燥法制备甜瓜样品,所得分析结果与ICP-AES对照相吻合。

包生祥 王志红 《分析化学》 1999年05期 期刊

关键词: X-射线荧光光谱 / 甜瓜 / 矿质元素

下载(120)| 被引(10)

α-Al_2O_3电容薄膜湿度传感器  CNKI文献

论述了氧化铝薄膜电容湿度传感器的性能,提出了采用α-Al2O3薄膜作湿敏层的新型氧化铝薄膜湿度传感器,简述了该湿敏元件的制备方法和基本特性。最后讨论了目前尚存在的问题。

史青 张晓卫... 《电子科技大学学报》 1997年04期 期刊

关键词: 湿度 / 薄膜 / 氧化铝 / 湿敏

下载(115)| 被引(9)

原子力显微镜激光光路调整方法  CNKI文献

CSPM 930b型多功能扫描探针显微镜经常需要进行手动激光光路调整。该仪器使用说明书[1] 介绍的调整方法可操作性差、手续繁琐、过程冗长 ,且难以判断激光束是否准确照射到微悬臂针尖背面的镀金层上 ,往往造成误判...

包生祥 张勇... 《电子显微学报》 2002年05期 期刊

关键词: 激光光斑 / 微悬臂 / 原子力显微镜

下载(268)| 被引(4)

稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库的设计与实现  CNKI文献

在长期的稀土钴永磁材料研制和微观分析测试工作中,积累了大量分析研究案例和典型图谱。针对这些资料的有效存储和合理利用问题,利用Access为后台数据仓库,C#为开发语言,设计开发了稀土钴永磁体微观分析案例及图谱库,...

闫耀 包生祥... 《磁性材料及器件》 2014年05期 期刊

关键词: 稀土钴永磁材料 / 微观分析 / 数据库 / 案例

下载(40)| 被引(0)

LiNbO_3铁电畴结构扫描力显微镜表征  CNKI文献

为了分析评价铌酸锂(LiNbO3)单晶单畴化的效果,应用扫描力显微镜(SFM),对LiNbO3单晶片的电畴微观结构进行了分析表征。由于在压电力模式下,电畴的成像受到了样品本身结构的影响,畴图中出现的图像结构多与划痕相关。电...

彭晶 包生祥... 《压电与声光》 2007年03期 期刊

关键词: 铌酸锂晶体 / 畴结构 / 扫描力显微镜(SFM)

下载(204)| 被引(2)

MLCC电极质量的显微研究  CNKI文献

本文采用扫描电子显微镜分析了MLCC电极的微观结构,发现并研究了其存在的问题:端电极银底层存在较多的空洞及针孔缺陷,银底层与镍层之间结合不紧密等。这些电极微观结构反应出的问题,是降低MLCC可靠性和增加废品率的重...

彭晶 包生祥... 《电子质量》 2006年05期 期刊

关键词: 多层陶瓷电容器 / 电极 / 附着力 / 可靠性

下载(218)| 被引(1)

X-射线荧光光谱测定氧化铍中杂质元素  CNKI文献

拟定了BeO中12种痕量杂质元素的X-射线荧光光谱测定方法.采用光谱纯试剂人工合成校准标样,粉末压块法制备分析样片。考虑到BeO对X射线的透明性,在样片与样品盒支架之间垫置钼片消除试样盒发射线的干扰并产生附加激...

包生祥 王志红... 《分析化学》 2000年06期 期刊

关键词: X-射线荧光光谱 / 氧化铍 / 杂质测定

下载(101)| 被引(4)

用扫描电镜–微粒分析仪测量粉末样品  CNKI文献

利用扫描电镜配备微粒分析仪(SEM/MPA)对粉末样品作了形貌观察和粒度统计分布测定,表明SEM/MPA可在陶瓷工艺、冶金工艺等材料工程中实际应用。

阮世池 《电子元件与材料》 2001年03期 期刊

关键词: 扫描电子显微镜 / 微粒分析仪 / 粉末测量

下载(145)| 被引(1)

高岭土精矿的X-射线荧光分析  CNKI文献

1引言高岭上因其优良的理化性能在造纸、化工、陶瓷、电子和建材等工业上用途广泛。化学成分是评价其质量和用途的重要指标。X-射线荧光熔融制片法对高岭土原矿分析是值得推荐的方法,但对于精矿因杂质含量低,常因烙...

包生祥 《分析化学》 1996年05期 期刊

关键词: 校正曲线 / 粒度效应 / 高岭土

下载(102)| 被引(10)

氧化铍陶瓷的分析研究  CNKI文献

本文对高热导率电绝缘材料氧化铍进行了分析测试 ,包括对高纯氧化铍粉末的纯度及内含有害杂质的精确测定 ,可对氧化铍陶瓷片的微观结构、晶相、缺陷的分析检测等 ,并对原料不纯和工艺条件控制不当而导致的失效情况进行...

王志红 包生祥 《电子显微学报》 2001年04期 期刊

关键词: 氧化铍陶瓷 / 晶粒尺寸 / 热导率

下载(188)| 被引(1)

VPS60型溅射离子泵电源电路剖析  CNKI文献

详尽地分析了VPS60型溅射离子泵电源电路的工作原理将原电路整理简化为电源供给及高压测量电路,泵电流及泵真空压力测量电路、保护系统及遥控电路三大部分。

杨忠孝 成友才... 《四川轻化工学院学报》 1999年04期 期刊

关键词: VPS60型溅射离子泵 / 倍压整流 / 射极跟随器 / 对数放大器

下载(73)| 被引(1)

扫描电镜在微细加工技术中的应用  CNKI文献

微细加工技术是指制造微小尺寸零件的加工技术,它所涉及的是微米(μm)级的加工,现已发展到亚微米(1μm以下)和纳米(1nm)尺寸的加工技术。目前已成为大规模集成电路和微细图案形成必不可少的加工手段。例...

阮世池 《电子元件与材料》 1999年02期 期刊

关键词: 微细加工技术 / 扫描电镜

下载(109)| 被引(0)

X-射线荧光分析散射幂函数法的原理及其应用Ⅱ.非相干散射  CNKI文献

本文在较宽的基体原子序数变化范围内研究了非相干散射随基体吸收系数的变化规律,发现存在一种幂函数关系,而传统散射内标法所假定的反比关系仅在较窄的轻元素范围内存在。实验证实了这种理论规律的存在。提出了用康...

包生祥 《光谱学与光谱分析》 1999年01期 期刊

关键词: X-射线荧光分析 / 康普顿散射 / 散射幂函数法 / 基体校正

下载(62)| 被引(1)

多层陶瓷电容器流延瓷膜的原子力显微镜分析  CNKI文献

电介质瓷料流延膜的制作是生产多层陶瓷电容器(MLC)的关键工序,流延膜的平整度,致密性,表面形貌等是影响MLC的性能和可靠性的关键因素之一。原子力显微镜(AFM)可不经导电处理直接观察电介质瓷膜的表面微结构。AFM作为...

马丽丽 包生祥... 《电子显微学报》 2005年04期 期刊

关键词: 多层陶瓷电容器 / 原子力显微镜

下载(147)| 被引(0)

X-射线荧光分析散射函数法的原理及其应用Ⅲ.连续背景幂函数...  CNKI文献

本文在宽的基体变化范围内对波长为0.081nm的连续散射X-射线进行了研究,表明质量衰减系数与连续散射强度之间不再遵守传统散射内标法所假定的反比例关系,而是呈一种幂函数关系。理论证明和实验结果一致。提...

包生祥 王志红... 《光谱学与光谱分析》 1999年02期 期刊

关键词: X-射线荧光分析 / 连续散射 / 散射幂函数法 / 基体校正

下载(56)| 被引(1)

陶瓷电路基片孔金属化的显微形貌表征  CNKI文献

印制板是电子工业重要的电子部件之一 ,几乎所有电子设备 ,小到电子手表、计算器 ,大到电子计算机、通信电子设备、军用武器系统 ,只要有集成电路等电子元器件 ,为了对其安装和电气互连 ,都要使用印制板。开始是单面印...

王志红 常嗣和... 《电子显微学报》 2002年05期 期刊

关键词: 孔金属化 / 电路基片 / 金属化孔 / 金属化层

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