搜索

主题

从

不限

不限
1915年
1949年
1979年

到

不限

不限
1979年
1949年
1915年

全文
主题
篇名
关键词
作者
作者单位
摘要
参考文献
基金
文献来源
发表时间
中图分类号

搜索快捷搜索

主题

从

不限

不限
1915年
1949年
1979年

到

不限

不限
1979年
1949年
1915年

全文
主题
篇名
关键词
作者
作者单位
摘要
参考文献
基金
文献来源
发表时间
中图分类号

搜索快捷搜索

全文

从

不限

不限
1915年
1949年
1979年

到

不限

不限
1979年
1949年
1915年

全文
主题
篇名
关键词
作者
作者单位
摘要
参考文献
基金
文献来源
发表时间
中图分类号

搜索快捷搜索

引用

筛选：

文献类型文献类型

学科分类学科分类

发表年度发表年度

作者作者

机构机构

基金基金

研究层次研究层次

排序：

按相关度排序

显示：

CNKI为你找到相关结果条

基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究 CNKI文献

在现代集成电路测试中,漏电流是一项很重要的指标,基于漏电流故障的模型可以快速发现CMOS制造工艺的缺陷。本文首先介绍了漏电流故障模型的特点,阐述了基于漏电流故障模型对集成电路进行漏电流测试的测试原理、测试集...

王香芬高成... 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会论文集 2008-10-01 中国会议

关键词：漏电流故障模型 / 漏电流测试 / 集成电路 / CMOS电路

下载（88）| 被引（0）

学术研究指数分析(近十年)详情>>

发文趋势

时间的形状

全选
全部清除
已选文献（0）
生成参考文献

用户反馈