散斑干涉法在工业质检中的应用 CNKI文献
电子散斑干涉测量技术(Electronic speckle pattern interferometry,简称ESPI)作为一种高精度的光学测量技术被广泛应用于无损检测和微变形检测中,具有测量精度高、非接触测量、测量速...
林翠翠
导师:刘文耀
天津大学
2011-12-01
硕士论文
散斑干涉信息提取技术及其应用研究 CNKI文献
电子散斑干涉测量技术(Electronic speckle pattern interferometry,简称ESPI)是一种全场非破坏性光学测量技术,广泛应用于粗糙表面的变形测量和无损检测。在应用该技术时,准确提取相位,对物...
张芳
导师:刘文耀
天津大学
2009-01-01
博士论文