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基于PDE的错位ESPI无损检测方法与系统实现  CNKI文献

设计并实现了电子散斑干涉无损检测系统,搭建了错位电子散斑干涉光路.采用基于偏微分方程的电子散斑干涉信息提取技术对采集到的散斑图像进行处理,结合条纹图自身的方向信息,利用偏微分...

张芳 孙娇... 《天津工业大学学报》 2016年01期 期刊

关键词: 无损检测 / 错位电子散斑干涉 / 偏微分方程 / 相位提取

下载(95)| 被引(1)

散斑干涉法在工业质检中的应用  CNKI文献

电子散斑干涉测量技术(Electronic speckle pattern interferometry,简称ESPI)作为一种高精度的光学测量技术被广泛应用于无损检测和微变形检测中,具有测量精度高、非接触测量测量速...

林翠翠 导师:刘文耀 天津大学 2011-12-01 硕士论文

散斑干涉信息提取技术及其应用研究  CNKI文献

电子散斑干涉测量技术(Electronic speckle pattern interferometry,简称ESPI)是一种全场非破坏性光学测量技术,广泛应用于粗糙表面的变形测量和无损检测。在应用该技术时,准确提取相位,对物...

张芳 导师:刘文耀 天津大学 2009-01-01 博士论文

包覆药柱界面粘结质量的无损检测  CNKI文献

利用错位电子散斑干涉技术,对包覆药柱界面粘结质量无损检测方法进行了研究,分析了影响检测结果的间距、图像判读、加载量、灵敏度和内应力等关键因素。试验结果表明,此方法可以检测最小直径3.6mm的人工脱粘区。

蔡虹 《上海航天》 2004年03期 期刊

关键词: 包覆药柱 / 界面粘结质量 / 错位散斑干涉 / 无损检测

下载(130)| 被引(9)

可调实时时间差电子错位散斑技术及应用  CNKI文献

本文首次提出一种可调实时时间差电子错位散斑干涉技术,并成功地用于热变形测量,该方法还可用于长时间连续变形和瞬态大变形的位移测量。叙述了该技术的原理,给出了一些应用的实验结果。

戴嘉彬 秦玉文 《光子学报》 1995年05期 期刊

关键词: 可调实时时间差 / 电子错位散斑 / 变形测量

下载(44)| 被引(5)

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