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非侵入式光学探测技术加快硅片调试 CNKI文献
包括激光电压探测和时间分辨发射技术的非侵入式光学检测方法,有助于设计工程师获取硅片成功,缩短产品进入市场的时间。
Israel Niv 《电子设计应用》 2004年05期 期刊
关键词: 扫描链 / 光学探测技术 / 非侵入式 / 门电路
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