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高频大功率晶体管的失效分析  CNKI文献

介绍了对某型号高频大功率晶体管进行的失效分析。分析结果表明器件在寿命试验中发生击穿失效的主要原因是芯片的散热结构存在工艺和设计方面的问题,这也是影响高频大功率工作寿命的主要问题。

欧叶芳 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年03期 期刊

关键词: 高频大功率晶体管 / 失效分析 / 芯片粘接 / 散热

下载(139)| 被引(1)

严把进口元器件的质量关  CNKI文献

本文根据几例对进口元器件进行失效分析、试验和检测的结果,讨论了当前国内部分整机单位在购买进口元器件时,可靠性方面存在的一些问题,并提出了一些改进方法和建议。

来萍 欧叶芳... 《电子质量》 2000年05期 期刊

关键词: 可靠性指标 / 粘接质量 / 电感线圈 / 引线键合

下载(21)| 被引(0)

国产光电耦合器主要故障模式和失效机理  CNKI文献

通过对 6种型号 2 0多只国产光电耦合器失效样品的失效分析 ,分析研究了国产光电耦合器的 6种主要故障模式及其失效机理

徐爱斌 李少平... 《电子产品可靠性与环境试验》 2000年03期 期刊

关键词: 光电耦合器 / 故障模式 / 失效机理

下载(279)| 被引(3)

光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策  CNKI文献

研究探讨了光电耦合器电流传输比 (CTR)的退化现象及其退化机理 ,提出了控制CTR退化的主要技术途径。

徐爱斌 李少平... 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年02期 期刊

关键词: 光电耦合器 / 电流传输比 / 退化现象 / 退化机理

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声表面波器件芯片附着强度不合格因素分析与改进措施研究  CNKI文献

针对DPA中出现的声表面波(SAW)器件芯片附着强度不合格问题,通过多次的试验检测、分析数据和研究标准,进行了芯片附着强度因素分析,提出了改进措施。

徐爱斌 欧叶芳 第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2005-10-01 中国会议

关键词: 声表面波器件 / 附着强度 / 不合格因素 / 分析与改进

下载(14)| 被引(0)

国产光电耦合器密封试验和内部水汽含量检测结果分析  CNKI文献

本文对国内三个光电耦合器主要生产厂家的多种型号品种气密封装光电耦合产品开展了密封试验和内部水汽含量检测,并着重对试验结果进行了分析讨论。

徐爱斌 李少平... 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年04期 期刊

关键词: 光电耦合器 / 密封试验 / 内部水汽含量检测 / 结果分析

下载(88)| 被引(1)

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