作  者

不  限

  • 不  限
  • 1915年
  • 1949年
  • 1979年

不  限

  • 不  限
  • 1979年
  • 1949年
  • 1915年
  • 全  文
  • 主  题
  • 篇  名
  • 关键词
  • 作  者
  • 作者单位
  • 摘  要
  • 参考文献
  • 基  金
  • 文献来源
  • 发表时间
  • 中图分类号

全  文

不  限

  • 不  限
  • 1915年
  • 1949年
  • 1979年

不  限

  • 不  限
  • 1979年
  • 1949年
  • 1915年
  • 全  文
  • 主  题
  • 篇  名
  • 关键词
  • 作  者
  • 作者单位
  • 摘  要
  • 参考文献
  • 基  金
  • 文献来源
  • 发表时间
  • 中图分类号
设置
  • 关闭历史记录
  • 打开历史纪录
  • 清除历史记录
引用
筛选:
文献类型 文献类型
学科分类 学科分类
发表年度 发表年度
作者 作者
机构 机构
基金 基金
研究层次 研究层次
排序:
显示:
CNKI为你找到相关结果

电子元器件失效分析实例  CNKI文献

1电子模块失效分析二例1.1对数视放模块DSF-101.11失效模式:小信号输出波形斜顶,波形参数见图1.1。1.12失效环境:整机温度冲击(+125℃~-55℃)1.13模块失效原因:反馈回路输出滤...

郑廷圭 李少平... 《电子产品可靠性与环境试验》 1997年04期 期刊

关键词: 电解电容器 / 小信号增益 / 高温烘烤 / 失效分析

下载(231)| 被引(3)

微波放大器自激振荡的分析定位  CNKI文献

介绍了对一种进口微波放大器在静态条件下产生自激振荡的原因进行分析的案例。在保证不破坏原有现象和尽量保证样品完整性的前提下,采用各种技术手段,成功地进行了分析定位。确定导致样品自激振荡的直接原因是:第3...

来萍 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年01期 期刊

关键词: 微波放大器 / 自激振荡 / 分析定位

下载(210)| 被引(2)

PCB的腐蚀失效及其分析  CNKI文献

通过一个电子辞典用PCB腐蚀失效的分析案例,介绍了PCB的失效现象、分析过程和分析技术,阐述了其失效机理,并提出了相应的改进措施。

徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年02期 期刊

关键词: 印制电路板 / 软包封 / 离子玷污 / 腐蚀失效

下载(278)| 被引(8)

半导体器件参数退化失效分析  CNKI文献

1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、...

徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1996年04期 期刊

关键词: 器件参数 / 失效分析 / 集电区 / 高温烘烤

下载(274)| 被引(3)

国产A/D(模/数)、D/A/(数/模)转换器失效模式和失效机理研究  CNKI文献

国产A/D(模/数)、D/A(数/模)转换器是重点电子产品,属大规模集成电路。我国军用和重点工程对A/D、D/A的需求很大,而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理...

徐爱斌 郑廷圭... 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年01期 期刊

露点测试技术及其计算机辅助测试系统  CNKI文献

1 引言 众所周知,内部水汽含量过高是导致铝金属化腐蚀(即长“白毛”)失效的主要原因。为了确保器件的可靠性,必须对器件的内部水汽含量指标进行严格考核。为此,必须有一种能对密封器件的内部水汽含量进行有效测试的方...

陈三廷 郑廷圭... 《电子产品可靠性与环境试验》 1994年04期 期刊

关键词: 测试技术 / 反向漏电流 / 内部水汽含量 / 测试系统

下载(42)| 被引(0)

双极型微波功率晶体管热失效原因分析  CNKI文献

阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出相应的筛选措施。

李萍 来萍... 《电子产品可靠性与环境试验》 2006年04期 期刊

关键词: 双极型微波功率晶体管 / 二次击穿 / 粘接不良

下载(185)| 被引(10)

双极型微波功率晶体管热失效原因分析  CNKI文献

本文阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出对功率管进行优选的措施。

李萍 来萍... 第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集 2005-10-01 中国会议

关键词: 双极型微波功率晶体管 / 热奔 / 二次击穿

下载(72)| 被引(1)

Au—Al键合系统失效对IC器件的影响  CNKI文献

本文介绍了Au-Al键合系统的失效机理及其对器件可靠性的影响,并以具体实例说明了Au-Al键合系统生成金铝间化合物和Kirkendall(柯肯德尔)空洞导致器件失效,最后,提出了相应的预防措施。

林晓玲 郑廷圭 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会论文选 2006-10-01 中国会议

关键词: Au-Al键合系统 / 金铝间化合物 / Kirkendall空洞(柯肯德尔空洞)

下载(98)| 被引(0)

光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策  CNKI文献

研究探讨了光电耦合器电流传输比 (CTR)的退化现象及其退化机理 ,提出了控制CTR退化的主要技术途径。

徐爱斌 李少平... 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年02期 期刊

关键词: 光电耦合器 / 电流传输比 / 退化现象 / 退化机理

下载(162)| 被引(5)

塑封GaAs MMIC的失效机理及典型案例  CNKI文献

阐述了塑封GaAs MMIC的主要失效模式和失效机理,根据40余例实际案例,得出了其使用中的失效机理分布,并给出几例典型的失效分析案例。

李萍 黄云... 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年06期 期刊

关键词: 微波单片集成电路 / 失效模式 / 失效机理 / 分析案例

下载(146)| 被引(2)

PCBA-PTH焊点失效原因分析  CNKI文献

介绍了一例典型的PCB过波峰焊后焊点润湿不良原因分析的案例。分析结果表明由于孔壁镀层厚度太薄、冲孔(钻孔)质量差以及孔焊盘锡铅镀层太薄等原因导致焊点润湿不良。

贺光辉 罗道军... 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年S1期 期刊

关键词: 印制电路板 / 润湿不良 / 镀层厚度 / 钻孔质量

下载(198)| 被引(1)

梳状谐波发生器的失效原因分析  CNKI文献

介绍了对一进口梳状谐波发生器功能失效样品进行分析的案例。分析结果表明,失效原因是导电胶粘接导致的键合失效,这也是目前国内微波模块中最常见的失效原因之一。通过对失效部位的修补,恢复了失效样品的功能,从而也验...

来萍 李萍... 《电子产品可靠性与环境试验》 2004年01期 期刊

关键词: 谐波发生器 / 失效分析 / 键合 / 粘接

下载(85)| 被引(0)

AS169微波开关电路的失效原因分析  CNKI文献

本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析。采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是:在装配和测试阶段因静电放电(ESD)而导致电路...

来萍 李萍... 《电子质量》 2003年08期 期刊

关键词: 微波开关电路 / 失效分析 / 静电损伤

下载(91)| 被引(1)

国产光电耦合器密封试验和内部水汽含量检测结果分析  CNKI文献

本文对国内三个光电耦合器主要生产厂家的多种型号品种气密封装光电耦合产品开展了密封试验和内部水汽含量检测,并着重对试验结果进行了分析讨论。

徐爱斌 李少平... 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年04期 期刊

关键词: 光电耦合器 / 密封试验 / 内部水汽含量检测 / 结果分析

下载(89)| 被引(1)

严把进口元器件的质量关  CNKI文献

本文根据几例对进口元器件进行失效分析、试验和检测的结果,讨论了当前国内部分整机单位在购买进口元器件时,可靠性方面存在的一些问题,并提出了一些改进方法和建议。

来萍 欧叶芳... 《电子质量》 2000年05期 期刊

关键词: 可靠性指标 / 粘接质量 / 电感线圈 / 引线键合

下载(21)| 被引(0)

学术研究指数分析(近十年)详情>>

  • 发文趋势
时间的形状