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数字电路测试压缩方法研究  CNKI文献

测试压缩在保障测试质量前提下,能有效地减少数字集成电路的测试数据量和测试时间。它作为弥补测试能力提升速度和摩尔定律之间的差距的成功探索,有着巨大的理论价值和实践意义,广受学术界和工业界的关注。根据测试...

韩银和 导师:李晓维 中国科学院研究生院(计算技术研究所) 2005-12-01 博士论文

关键词: 集成电路 / 系统芯片 / 测试激励压缩 / 测试响应压缩

下载(951)| 被引(17)

测试数据压缩和测试功耗协同优化技术  CNKI文献

提出一种新的压缩编码———VariableTail对测试数据进行压缩.建立了两个优化模型,并提出了一种测试向量排序和不确定位定值算法.利用该算法不仅能提高测试压缩率,而且能降低测试时待测电路上损耗的功耗.理论分析和IS...

韩银和 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 2005年06期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 测试功耗 / Golomb编码 / 海明距离

下载(196)| 被引(24)

应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法  CNKI文献

测试资源划分是降低测试成本的一种有效方法 .本文提出了一种新的有效的对测试数据进行压缩的编码 :Variable Tail编码 ,并构建了基于该编码的测试资源划分方案 .文章的理论分析和实验研究表明了采用Variable Tail编码...

韩银和 李晓维 ... 《电子学报》 2004年08期 期刊

关键词: Variable-Tail编码 / Golomb编码 / 可适应性 / 测试模式

下载(103)| 被引(49)

数字电路测试压缩方法研究(英文)  CNKI文献

测试压缩可以在没有故障覆盖率损失的情况下,极大地降低测试时间和测试数据量,弥补了测试设备和芯片制造能力提升之间的差距,受到学术界和工业界的广泛关注.测试数据分为测试激励和测试响应2种,测试压缩也对应分为测试...

韩银和 李晓维 《中国科学院研究生院学报》 2007年06期 期刊

关键词: 系统芯片 / 测试激励压缩 / 测试响应压缩 / 扫描设计

下载(156)| 被引(10)

芯片验证分析及测试流程优化技术  CNKI文献

分析了不同测试项目对于一款采用0.18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力.以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的...

韩银和 李晓维... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2005年10期 期刊

关键词: 失效分析 / 实速测试 / 动态规划算法 / 启发式搜索算法

下载(258)| 被引(10)

SOC测试数据的编码压缩技术  CNKI文献

文章介绍了一种基于测试向量集的压缩/解压缩方法,目的在于弥补SOC测试中,测试设备存储容量不足的问题,分析了三种不同的编码方案,并从压缩率和解码电路的规模对它们作了比较,得出了使用Golomb编码来进行测试向量压缩...

韩银和 李晓维... 《微电子学与计算机》 2003年02期 期刊

关键词: SOC / 哈夫曼编码 / 游程编码 / Golomb编码

下载(209)| 被引(16)

适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计  CNKI文献

测试向量响应压缩电路分为组合压缩电路和时序压缩电路两种.提出一种新的时序压缩电路:锥-压缩器.由于该电路是单输出的,所以总能保证最大压缩率.根据扫描测试中故障出现的特点,通过引入等价概念和两条设计规则来保证...

韩银和 李晓维... 《计算机研究与发展》 2005年07期 期刊

关键词: 错误位抵消 / 未知位屏蔽 / 异或网络 / 多输入移位寄存器

下载(143)| 被引(9)

RevivePath:Resilient Network-on-Chip Design Through Da...  CNKI文献

Network-on-Chip(NoC)with excellent scalability and high bandwidth has been considered to be the most promising communication architecture for complex integration systems.However,NoC reliability is ge...

韩银和 刘成... 《Journal of Computer Science & Technology》 2013年06期 期刊

关键词: Network-on-Chip / fault-tolerant / on-chip / router

下载(46)| 被引(3)

基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究  CNKI文献

提出一种单输出压缩方法.首先提出了码率为n/(n?1)、距离为3的卷积码的设计规则,利用这些规则可得到卷积码的校验矩阵,该校验矩阵的实现电路即是能够提供单输出压缩的响应压缩电路.所设计的压缩电路可避免2个和任意奇...

韩银和 李华伟... 《中国科学E辑:信息科学》 2006年06期 期刊

关键词: SOC测试 / 测试响应压缩 / 卷积码 / 错误位混淆率

下载(140)| 被引(2)

面向三维多核片上系统的热感知硅后能耗优化方法  CNKI文献

高能效(Energy efficiency)已成为目前嵌入式多核片上系统(System-on-Chips,SoCs)设计中的首要优化目标.基于电压/频率岛设计的三维多核片上系统能够为构建高能效系统提供一种有力的解决方案.然而,不断增加的工艺偏差...

靳松 韩银和... 《计算机学报》 2016年09期 期刊

关键词: 系统能耗 / 三维多核片上系统 / 工艺偏差 / 电压/频率岛

下载(126)| 被引(3)

SOC可测试性设计与测试技术  CNKI文献

超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器...

胡瑜 韩银和... 《计算机研究与发展》 2005年01期 期刊

关键词: 芯片系统 / 可测试性设计 / 测试资源划分 / 测试资源优化

下载(1312)| 被引(105)

一种基于Android系统网络模块功耗的评估和分析  CNKI文献

嵌入式移动便携设备由电池供电,而电池容量却受体积和重量的制约,因此嵌入式移动设备的功耗问题成为研究的一个关键问题。分别采用WIFI和GPRS两种接入网络策略,研究手机系统功耗的变化。实验结果表明,小流量模式(10kb...

张立 韩银和... 《计算机科学》 2012年06期 期刊

关键词: 低功耗技术 / Android / 移动互联网 / 系统功耗

下载(300)| 被引(27)

考虑工作负载影响的电路老化预测方法  CNKI文献

晶体管老化效应已成为影响集成电路可靠性的重要因素.文中基于晶体管老化效应的物理模型,提出一种电路老化分析框架来预测集成电路在其服务生命期内的最大老化.首先计算出在最坏操作情况下电路老化的上限值;随后通过考...

靳松 韩银和... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2010年12期 期刊

关键词: 负偏置温度不稳定性 / 电路老化 / 占空比 / 非线性优化

下载(202)| 被引(36)

一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut  CNKI文献

扫描测试是超大规模集成电路测试中最常用的一种技术.但在扫描测试过程中,扫描单元的频繁翻转会引起电路中过大的测试功耗,这对电路测试提出了新的挑战.提出了一种新颖的低功耗全扫描结构——PowerCut,通过对扫描链的...

王伟 韩银和... 《计算机研究与发展》 2007年03期 期刊

关键词: 测试功耗 / 阻隔逻辑 / 控制单元 / 扫描链

下载(190)| 被引(24)

面向高可靠片上网络通信的可重构路由算法  CNKI文献

为了满足系统芯片对通信带宽的要求,片上网络正逐渐取代总线成为当前多核及众核系统的主流互连方案,然而由于芯片特征尺寸的不断减小,芯片内发生故障的概率显著增加.为了提供可靠的片上通信,提出一种低成本的可重构路...

付斌章 韩银和... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2011年03期 期刊

关键词: 片上网络 / 容错路由 / 可重构路由 / 转向模型

下载(496)| 被引(64)

基于双核扫描链平衡的SoC测试调度  CNKI文献

由于芯核的测试时间与芯核内最长扫描链的长度成正比,通过将SoC中的芯核进行成对匹配,使双芯核内最长的扫描链比两个单芯核内最长的扫描链短,从而缩短测试时间.利用粒子群优化算法和分合策略,高效地匹配芯核、设置芯核...

胡瑜 韩银和... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2005年10期 期刊

关键词: 测试调度 / 扫描链平衡 / 系统芯片 / 粒子群优化算法

下载(188)| 被引(16)

动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法  CNKI文献

为减少测试数据存储容量,提出一种动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法.使用3个扫描切片作为参考切片,若扫描切片与参考切片相容时,仅需2位或4位就可编码这个扫描切片,否则这个扫描切片将替换一个参考切片;当扫描...

刘军 韩银和... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2010年11期 期刊

关键词: 测试数据压缩 / 扫描切片 / 参考切片 / 压缩率

下载(115)| 被引(6)

SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法  CNKI文献

提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量...

王伟 韩银和... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2006年09期 期刊

关键词: SoC测试 / 芯核包装电路 / 不确定位 / 扫描切片

下载(180)| 被引(9)

采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法  CNKI文献

为了应对集成电路老化对电子系统可靠性带来的威胁,提出一种应用关键路径漏电流变化进行负偏置温度不稳定性老化预测的方法.首先用被测芯片在一组测量向量敏化下的漏电流变化构成一个方程组,通过解方程组得到关键路径...

邱吉冰 韩银和... 《计算机辅助设计与图形学学报》 2015年02期 期刊

关键词: 负偏置温度不稳定性 / 漏电流 / 老化 / 工艺偏差

下载(127)| 被引(6)

可热扩展的三维并行散热集成方法:用于大规模并行计算的片上...  CNKI文献

现有的三维(3D)垂直集成技术无法实现热扩展,受限于过高的温度,难以通过众多器件层的叠放来实现性能的最大化.文中提出了一种具有热扩展性的3D并行散热集成方法,将每个器件层平行于散热方向进行叠放,器件层为长条形,其...

骆祖莹 韩银和... 《计算机学报》 2011年04期 期刊

关键词: 片上系统 / 三维芯片 / 热分析 / 并行计算

下载(284)| 被引(10)

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